سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA

توضیحات محصول

مقدمه مقاله :سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA

چکیده فارسی :

این مقاله، سیستم BIST را با مولد الگوی آزمایشی غیر توکار (TPG) و تحلیگر پاسخ خروجی (ORA) برای تست و تشخیص آرایه گیت برنامه­ پذیر میدانی ارائه می­دهد. سیستم BIST پیشنهادی، بطور فیزیکی شامل اجزاء نرم افزاری و سخت افزاری است که بین آنها دو کانال ارتباطاتی وجود دارد .TPG و ORA مدارات BIST در بخش نرم افزاری هستند در حالیکه مدار تحت آزمون (CUT) مداری در بخش سخت افزاری است. یک EPGA دیگر در بخش سخت افزاری جای داده می­شود تا به عنوان رابط بین TPG، ORA و CUT عمل کند. الگوریتم­های تست و تشخیص EPGA نیز ارائه شدند. در مقایسه با روش BIST توکار، وقتی سیستم BIST پیشنهادی جهت تست FPGA بکار برده می­شود اعداد پیکربندی بدون مبادله TPG ، CRA برای CUT کاهش داده می­شود. همچنین سیستم BIST پیشنهادی مشاهده پذیری و کنترل پذیری خوبی را برای FPGA تحت آزمون ارائه می­دهد که به علّت الگوریتم­های پیشنهادی است که برای تست و تشخیص توسعه داده می­شوند. هیچ اهمیتی ندارد  FPGA تحت آزمون از چه نوع و اندازه آرایه­ای باشد، CUT از طریق سیستم BIST پیشنهادی تست می­شود. سیستم BIST از طریق تست چند EPGA مجموعه Xilinx ارزیابی می­شود و نتایج آزمایشاتی ارائه می­شود.

چکیده انگلیسی:

This paper presents a BIST system with non-intrusive test pattern generator (TPG) and output response analyzer (ORA) for field-programmable gate array (FPGA) test and diagnosis. The proposed BIST system physically consists of software and hardware parts with two communication channels in between. The TPG and ORA of the BIST circuitry are in the software part while a circuit under test (CUT) is in the hardware part, respectively. One more FPGA is incorporated in the hardware part to act as an interface between the TPG, ORA and the CUT. Algorithms for FPGA test and diagnosis are also presented. Compared with embedded BIST technique, configuration numbers can be reduced without exchanging the TPG, ORA for the CUT when the proposed BIST system is applied to test an FPGA. Also, the proposed BIST system can provide good observability and controllability for the FPGA-under-test due to the proposed algorithms developed for test and diagnosis. No matter what type and array size of an FPGA-under-test is, the CUT can be tested by the proposed BIST system. The BIST system is evaluated by testing several Xilinx series FPGAs, and experimental results are provided.

 

خرید این محصول

 
 زرین پال   
 
 

خواهشمنداست در صورت عدم دریافت فایل به با یادداشت کردن کد رهگیری و مراجعه به بخش پیگیری سفارش ها با زدن کد رهگیری فایل خود را مجددا دریافت کنید در غیر این صورت جهت هر گونه مشکل با شماره ذیل پیامک و یا تلگرام بدید

پشتيباني 24 ساعته (پيامك و تلگرام)

09189431367 

امکان پرداخت با کلیه کارت های عضو شتاب میسر است


 

سوالات و نظر شما در مورد این محصول